研究用グレードオプティクス(Research Grade Optics)
以下の精密研究用グレードのスタンダード基板は短納期で提供しています。両平面・凹面基板ともに、主面(S1)は< 1 Å rmsの超平滑(Ultra-Smooth)で1/10 wave PVの面精度を持っています。
この基板は様々な低散乱アプリケーションでの使用に最適です。また低散乱・低吸収・低損失のコーティングをすることで一層優れた特性となり、パフォーマンスの向上をお約束します。
この優れた品質によって基板が主因となって生じる問題や失敗を回避でき、この基板が持つ優れた表面品質は理想的な評価用サンプルとして最適ですので、独自のコーティングを研究・開発されている方々は、ぜひお試し下さい。
- 仕様 -
Side 1 光学仕様 | Side 2 光学仕様 |
・ 有効径 = 80%(central) | ・ 有効径 = 50%(central) |
・ 面精度 ≦ 1/10 wave PV | ・ 面精度 ≦ 1/5 wave PV*(3) |
・ 面粗さ ≦ 1Årms *(1),(2) | ・ 面粗さ ≦ 5Årms *(1),(3) |
・ 面品質 ≦ 10-5 Scratch-Dig | ・ 面品質 ≦ 10-5 Scratch-Dig *(3) |
*(1) Zygo 社ヘテロダインプロファイラ(model 5500)での自社測定 | |
*(2) 一部Silicon Carbidesでは≦ 2Å | |
*(3) 一部基板では不可(ラップ仕上げ等) | |
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寸 法 | 材 質 |
・ 直径 = ‘d’ +/-0.010” | ・ Zerodur潤・ |
・ 厚さ = ‘t’ +/-0.020” | ・ Fused Silica |
・ 曲率 = ‘r’ (公差は多様) | ・ ULE |
・ 面平行度 ≦ 1 Arc Minute | ・ BK-7 FA |
・ 面取り = 0.030” +/- 0.02” x 45度 | ・ Sapphire |
・ Silicon Carbide |
両平面基板 (Plano-Plano Substrates)
両平面(Plano-Plano)基板 在庫品/出荷準備済み | ||||
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Part No. | 基板形状 | 材質 | 直径 (‘d’) | 厚さ (‘t’) |
CO-FS-1000-250-PP | Plano-Plano | Fused Silica | 1.000" | 0.250" |
CO-FS-2000-375-PP | Plano-Plano | Fused Silica | 2.000" | 0.375" |
CO-FS-2000-375-PP-AL (Front Surface Aluminized) |
Plano-Plano | Fused Silica | 2.000" | 0.375" |
CO-ULE-1000-250-PP | Plano-Plano | ULE | 1.000" | 0.250" |
CO-SI-1000-250-PP | Plano-Plano | Silicon | 1.000" | 0.250" |
CO-SAP-1000-125-PP | Plano-Plano | Sapphire | 1.000" | 0.125" |
CO-Z-1000-250-PP | Plano-Plano | Zerodur潤・ | 1.000" | 0.250" |
CO-DYN-1000-250-PP | Plano-Plano | Dynasil 4101 | 1.000" | 0.250" |
裏面ラップ仕上げ(研磨ではありません) |
凹面基板 (Concave-Plano Substrates)
平凹(Concave-Plano)基板 在庫品/出荷準備済み | |||||
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Part No. | 基板形状 | 材質 | 曲率 (‘r’) | 直径 (‘d’) | 厚さ (‘t’) |
CO-FS-1000-250-1.0MP | Concave-Plano | Fused Silica | 1.0m | 1.000" | 0.250" |
CO-FS-1000-250-0.5MP | Concave-Plano | Fused Silica | 0.5m | 1.000" | 0.250" |
CO-FS-2000-375-1.0MP | Concave-Plano | Fused Silica | 1.0m | 2.000" | 0.375" |
CO-SAP-1000-250-1.0MP | Concave-Plano | Sapphire | 1.0m | 1.000" | 0.250" |
CO-BK-0305-157-1.0MP | Concave-Plano | BK-7 FA | 1.0m | 0.305" | 0.157" |
CO-BK-1000-250-10.2MP | Concave-Plano | BK-7 FA | 10.2m | 1.000" | 0.125" |
CO-BK-0500-250-10.2MP | Concave-Plano | BK-7 FA | 10.2m | 0.500" | 0.250" |
CO-BK-1000-250-0.24MP | Concave-Plano | BK-7 FA | 0.24m | 1.000" | 0.250" |
裏面ラップ仕上げ(研磨ではありません) |
カスタムオプティクスの製作及び研磨(Custom Optics Fabrication & Polishing)
Coastline Opticsでは様々な特注のオプティクス製作やサービスを提供しています。設計から製造(Build to Print)、そしてIBS薄膜コーティングまで、お客様からのあらゆる光学的な要求に対して本当の『ワンストップ』対応を提供します。
設計から製造まで(Build to Print)
Coastlineは『Build to Print』(設計から製造まで)に特化したメーカーです。最初から最後まで、Coastlineは全ての光学的な要求に対して真に統合されたワンストップソースを提供する独自能力を持っています。
フューズドシリカやBK7、パイレックス等といった一般的な光学材料に加えて、サファイア・シリコン・シリコンカーバイド・ゲルマニウムあるいはフッ化カルシウム等の材料に対する確実な加工技術の開発も積極的に行っています。
研究開発(R&D)でもフル生産でも、万全な設備と熟練したスタッフとは最重要プロジェクトに対応でき、最も厳しい基準で成し遂げることができます。
サファイア研磨(Sapphire Polishing)
サファイアの特色には、高い引張強度・傷耐性・透明性・化学的耐性などがあります。これらの特性によって、高エネルギーレーザー用ロッドから非常に耐久性のあるキャノピー用ウィンドウといった多様なアプリケーションにおいてサファイアが最適であるとされます。
サファイアの研磨は難しいと知られていますが、Coastlineの研磨チームではサファイアやチタンサファイアをサブオングストロームの面仕上げで研磨する、高い信頼性と再現性とがある研磨工程を開発しました。低アスペクト比が求められるアプリケーションのために、1/50 wave PVという面精度を実現可能です。ウィンドウのような高アスペクト比を持つアプリケーションのためには、透過波面誤差1/50 waveを実現します。
支給基板の研磨、もしくはご要求に即時対応できるターンキーソリューションの提案など、Coastlineはそうした機会も歓迎しています。
シリコンカーバイド研磨(Silicon Carbide Polishing)
Information Coming Soon
シリコン研磨(Silicon Polishing)
Information Coming Soon
IBS薄膜コーティング(IBS Thin Film Coatings)
低散乱・低吸収・低損失という点で、Coastlineのイオンビームスパッターコート(IBS coating)はどこにも負けません。コート対象材料における豊富な品揃えがあり、あらゆる光学コーティングをお客様へ提供する独自の能力を持っています。これらの高密度および耐久性のあるコーティングは様々な要求に適した設計を可能にします。
高反射(HR)から反射防止(AR)、偏光及び無偏光ビームスプリッターなどといったものでも、お客様のご希望に応じたコーティング設計を行っています。
- 優れた特性 -
・ 低散乱:‹5ppm ・ 低吸収:‹5ppm
・ トータルロス:‹15ppm ・ 同一性は1%以上
・ 環境的な安定性 ・ 優れた接着性
・ 高い損傷閾値 ・ 高い製造再現性
High Reflection 'V' Dielectric Coatings | ![]() ![]() |
・ 高反射率V誘電体コート | |
・ 反射率:›99.999% | |
・ 対応波長:300〜3000nm | |
・ トータルロス:‹15ppm(散乱及び吸収) |
Dual Band High Reflection Coatings | ![]() ![]() |
・ 2波長高反射誘電体コート | |
・ 3波長高反射IBS誘電体コート | |
・ 反射率:›99.9% | |
・ 対応波長:300〜3000nm | |
・ トータルロス:‹15ppm(散乱及び吸収) |
Partial Reflector or Beamsplitter Coatings | ![]() ![]() |
・ 部分反射もしくは ビームスプリッター誘電体コート |
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・ 希望の反射率と透過率を指定 | |
・ 希望の波長を指定 | |
・ 対応波長:300〜3000nm | |
・ トータルロス:‹15ppm(散乱及び吸収) |
Anti-Reflection 'V' Coatings @ 0° - 15° AOI | ![]() ![]() |
・ 反射防止(AR) Vコート | |
・ 入射角:0〜15度 | |
・ 対応波長:300〜3000nm | |
・ 反射率:‹0.1% 代表値(‹0.01%も可能) | |
・ トータルロス:‹15ppm(散乱及び吸収) |
Anti-Reflection 'V' Coatings @ 45° AOI | ![]() ![]() |
・ 反射防止(AR) Vコート | |
・ 入射角:45度 | |
・ 対応波長:300〜3000nm | |
・ 反射率:‹0.1% 代表値(‹0.01%も可能) | |
・ トータルロス:‹15ppm(散乱及び吸収) |
Broadband Anti-Reflection Coatings | ![]() ![]() |
・ 広帯域反射防止(AR) IBSコート | |
・ 希望の波長域を指定 | |
・ 対応波長:300〜3000nm | |
・ 反射率:‹0.5% 代表値(最大でR ‹1%)) | |
・ トータルロス:‹15ppm(散乱及び吸収) |
検査・計測サービス(Test & Metrology Services)
計測部門では様々な光学特性の計測が可能です。テストフラットの再証明やコーティングされた光学素子の特性を確認する場合など、Coastlineでは必要なサポートを提供致します。
ぜひお気軽にご相談下さい。
形状及び透過波面誤差の測定 (Figure & Transmitted Wavefront Error Measurements)
位相シフト干渉計(Zygo Mark GPI Phase Shifting Interferometer)により、オプティカルテストフラットやウィンドウの測定や認定をします。
・ 12”径までの面精度/平坦度を測定 | ![]() ![]() |
・ 12”径までの透過波面誤差を測定 | |
・ 1/10wave (PV) @ 633nmまで証明可能 | |
・ 表面の干渉図(Surface Interferogram)と証明書を提供 |
面粗さの測定 (Surface Roughness Measurements)
お客様のアプリケーションにマイクロラフネスへの心配はありますか?Coastlineではサブオングストロームレベルでの面粗さ測定が可能です。Zygoヘテロダインプロファイラーにより、+/-0.1 Å rms以上の精度で安全かつ非破壊での面粗さ測定ができます。
・ サブオングストロームレベルでの面測定 | ![]() ![]() |
・ 自社基準による証明が可能 | |
・ 面粗さのプロファイルを提供 |
光学コーティング性能の測定 (Optical Coating Performance Measurements)
透過率、反射率及び中心波長などのコーティング性能を分光光度計(Cary 500 Spectrophotometer)にて測定します。
・ 透過率測定 | ![]() ![]() |
・ 反射率測定 | |
・ 中心波長測定 | |
・ 性能グラフを提供 |
設備(Equipment)
Coastline Opticsは総合サービスの精密光学メーカーです。自社設備は17,000sq/ft(1,581m2)の広さがあり、基板整形、研磨、検査、接着/オプティカルコンタクト、薄膜コーティング等の全サービスを提供する設備を有しています。
基板整形装置 | ![]() ![]() |
・ Rotary Grinders (up to 20" 遵K) | |
・ Curve Generators (up to 24" 遵K) | |
・ Centerless Grinders | |
・ Dicing Saws | |
・ Mills |
ラップ研磨装置 | ![]() ![]() |
・ Radius Lapping Machines | |
・ Flat Lapping Machines |
研磨装置 | ![]() ![]() |
・ Spindle Polishers | |
・ Continuous Polishers |
薄膜コーティング装置 | ![]() ![]() |
・ Veeco/Ion-Tech Spector IBS Coating Systems |
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・ Cary 500 Spectrophotometer | |
・ Rudolph Ellipsometer |
品質システム (Quality System)
Coastlineはお客様へ最高品質の光学製品を提供することに専念しています。品質保証されたシステムへの必要性だけでなく、お客様の期待を超えたシステムの必要性も認識しています。この目的のために、Coastlineでは会社全体を通じた品質システムを実践し、全スタッフが品質への責任を負う体制にしています。
品質システム概要(Quality System Overview)
品質システムはMil-I-45208をモデルとしています。
較正システムはMil-STD-45662をモデルとしています。
品質システムは文章で述べられた以上のものです。Coastlineでは、世界で最も精密な光学部品を生産していることを会社全体で強く自負しています。各注文において厳正な品質基準で製造及び検査を行っています。こうした努力に近道はありません。
フォームが表示されるまでしばらくお待ち下さい。
恐れ入りますが、しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合は、こちらまでお問い合わせください。